量子效率測試儀是指太陽(yáng)能電池的電荷載流子數目與照射在太陽(yáng)能電池表面一定能量的光子數目的比率。因此，太陽(yáng)能電池的量子效率與太陽(yáng)能電池對照射在太陽(yáng)能電池表面的各個(gè)波長(cháng)的光的響應有關(guān)。太陽(yáng)能電池的量子效率與光的波長(cháng)或者能量有關(guān)。如果對于一定的波長(cháng)，太陽(yáng)能電池吸收了所有的光子，并且我們搜集到由此產(chǎn)生的少數載流子(例如，電子在P型材料上)，那么太陽(yáng)能電池在此波長(cháng)的量子效率為1。
 

　　對于能量低于能帶隙的光子，太陽(yáng)能電池的量子效率為0。理想中的太陽(yáng)能電池的量子效率是一個(gè)正方形，也就是說(shuō)，對于測試的各個(gè)波長(cháng)的太陽(yáng)能電池量子效率是一個(gè)常數。但是，絕大多數太陽(yáng)能電池的量子效率會(huì )由于再結合效應而降低，這里的電荷載流子不能流到外部電路中。影響吸收能力的同樣的太陽(yáng)能電池結構，也會(huì )影響太陽(yáng)能電池的量子效率。

 

 　　量子效率測試儀測試方法與步驟：

　?。?）將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅動(dòng)電路放置在暗室中，并調節測量系統各部分儀器的參數。打開(kāi)光源的開(kāi)關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開(kāi)單色儀開(kāi)關(guān)，打開(kāi)皮安表開(kāi)關(guān)和移動(dòng)位移臺的開(kāi)關(guān)。

　?。?）通過(guò)上位機程序控制待測CCD芯片電子快門(mén)，調整CCD芯片的積分時(shí)間來(lái)控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。（一般調好不用管）。

　?。?）調節移動(dòng)位移臺，將標準件調到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　?。?）記錄皮安表的數值，查表，找出對應波長(cháng)的數值，用皮安表的數值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對皮瓦）

　?。?）蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設備，連續采圖，設置參數中輸入對應波長(cháng)，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　?。?）調節移動(dòng)位移臺，將CCD工業(yè)相機調到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點(diǎn)）。

　?。?）揭開(kāi)CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設置參數中輸入對應波長(cháng)，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　?。?）記錄量子效率測試儀的量子效率值。