量子效率測試儀可提供大面積的均勻光斑，比傳統積分球提供更強的光強，可以測量相機像素的量子效率以及整個(gè)芯片的相機參數。準直光學(xué)技術(shù)，提供半角1度的準直光，可以進(jìn)行變角度CRA和CROSSTALK測試。利用分光技術(shù)，測量的波長(cháng)范圍更可擴展到190 nm-2600 nm。是一高性能的傳感器綜合測試系統。
 

　　量子效率測試儀使用方法與步驟：
 

　　(1)：將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅動(dòng)電路放置在暗室中，并調節測量系統各部分儀器的參數。打開(kāi)光源的開(kāi)關(guān)，使電流保證在8.4到8.6安，打開(kāi)單色儀開(kāi)關(guān)，打開(kāi)皮安表開(kāi)關(guān)和移動(dòng)位移臺的開(kāi)關(guān)。
 

　　(2)：通過(guò)上位機程序控制待測CCD芯片電子快門(mén)，調整CCD芯片的積分時(shí)間來(lái)控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。(一般調好不用管)。
 

　　(3)：調節移動(dòng)位移臺，將標準件調到和激光光斑重合處(目前大約41500)。
 

　　(4)：記錄皮安表的數值，查表，找出對應波長(cháng)的數值，用皮安表的數值除以查表得出的值，得出功率值。(正好皮安對皮瓦)。
 

　　(5)：蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設備，連續采圖，設置參數中輸入對應波長(cháng)，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。
 

　　(6)：調節移動(dòng)位移臺，將CCD工業(yè)相機調到激光光斑重合處，(目前大約是回到原點(diǎn))。
 

　　(7)：揭開(kāi)CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設置參數中輸入對應波長(cháng)，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。
 

　　(8)：記錄量子效率的值。
 

　　(9)；在單色儀的上位軟件里，設定對應波長(cháng)，波長(cháng)從400nm-780nm。設置起始波長(cháng)為400nm，每隔20nm，重復(3)到(8)步驟測一次量子效率的值。直到780nm為止。
 

　　(10)：繪制量子效率的曲線(xiàn)。